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제품 상세 정보:
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| 보증: | 1년 | 채널: | 4 |
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| 무게: | 50.5파운드 | 표시: | 7 인치 칼라 터치 스크린 |
| 접속구의 형태: | SMA | 지원되는 프로토콜: | 이더넷, SONET/SDH, 섬유 채널, OTN, CPRI, OBSAI |
| 데이타 속도 범위: | 25~29Gbps/Gbaud | ||
| 강조하다: | 고성능 테스트 장비,24.5~29Gb/S 에러 미터,4채널 오류 미터 |
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4채널 24.5~29Gb/S 조정 가능한 오류 미터 고성능 테스트 장비
4채널의 24.5~29Gb/s 조정 가능한 비트 오류 미터는 고성능 테스트 장비의 일종입니다.주로 고속 디지털 통신 시스템 및 광 통신 장치의 비트 오류 비율 테스트에 사용됩니다..
제품 개요
4채널의 24.5~29Gb/s 조정 가능한 오류 미터는 내부 참조 시계, 그래픽 신호 생성기, 시계 복구 회로 및 오류 분석과 같은 기능을 통합합니다.고 정밀 오류 비율 테스트를 제공할 수 있습니다.이 장치는 각각 29Gb/s까지의 속도의 네 개의 독립적인 광전기 채널을 지원하며, 여러 속도의 장치를 측정하기에 적합합니다.
U9225C 4채널 24.5 ~ 29Gps 조정 가능한 비트 오류 미터는 주로 100G TOSA/ROSA 장치의 비트 오류 테스트를 위해 사용되며 다양한 속도 장치의 측정에 쉽게 사용할 수 있습니다.U9225C는 높은 정밀도의 특징을 가지고 있습니다, 높은 비용 성능, 간단하고 편리한 조작 등 광 통신 제조 생산 라인, 대학 및 과학 연구 기관에서 널리 사용되었습니다.
U9225C는 내부 참조 시계, 그래픽 신호 생성기, 시계 복구 회로 및 오류 분석을 통합합니다.광전기 인터페이스와 USB 데이터 통신 인터페이스를 제공하면서, 각 채널 속도는 29Gbps까지
제품 특성
고 정밀: 장비는 테스트 결과의 신뢰성을 보장하기 위해 테스트 시스템의 비트 오류 비율을 정확하게 측정 할 수있는 고급 테스트 기술과 알고리즘을 채택합니다.
높은 비용 성능: 유사한 제품과 비교하면 장비는 높은 비용 성능을 가지고 있으며 다른 사용자의 요구를 충족시킬 수 있습니다.
조작하기 쉽습니다: 장비는 친근한 사용자 인터페이스와 조작하기 쉬운 제어 시스템을 가지고 설계되었으며 사용자는 테스트 작업을 쉽게 완료 할 수 있습니다.
다재다능성: 기본 비트 오류 비율 테스트 기능 외에도 장치는 다양한 테스트 요구를 충족시키기 위해 여러 테스트 모드와 사용자 지정 테스트 시퀀스를 지원합니다.
사양
| 절대 최대 등급 | 기호 | 미네 | 타이프. | 맥스 | 단위 | 참고문서 |
| 저장 온도 | 츠 | - 20 | ∙ | 70 | °C | |
| AC 전압 범위 | VAC | 90 | ∙ | 246 | VAC | |
| AC 전압 주파수 범위 | VFREQ | 47 | ∙ | 63 | Hz | |
| 데이터 RF 전압 입력 | VinData | -0.3 | ∙ | 1.2 | V | |
| 시계 전압 입력 | VinClk | 0 | ∙ | 1.2 | V | |
| USB 핀 전압 | VinUSB | -0.3 | ∙ | 5.5 | V | |
| RF 및 시계 ESD HBM | RFesdH | -1000 | ∙ | 1000 | V | |
| RF, 시계 및 USB 라치업 | Vl | -100 | ∙ | 100 | mA | |
| USB ESD HBM | USBesdH | -2000년 | ∙ | 2000 | V | |
| USB ESD CDM | USBesdC | -500 | ∙ | 500 | V | |
| 전기 특성 | 기호 | 미네 | 타이프. | 맥스 | 단위 | 참고문서 |
| 케이스 온도 | Tc | 5 | ∙ | 45 | °C | |
| AC 공급 전류 | Icc | 0.75 | 200 | ∙ | mA | |
| 보드율 (NRZ 형식) | BR | 12.25/24.5 | 14.5/29 | Gb/s | ||
| 바우드 비율 설정점 정확성 | BRa | -10 | ∙ | 10 | PPM | (고기 1) |
| 보드율 PPM 오프셋 | BRo | -999 | ∙ | 999 | PPM | 1 PPM 단계 크기 |
| 초기화 시간에 전력 | 톤 | ∙ | ∙ | 15 | 2초 | |
| 눈 단계 단계 | EMp | ∙ | ∙ | 128 | 단계 | 단위당.16pS |
| 눈 의 넓이 단계 | EMv | ∙ | ∙ | 64 | 단계 | 단위당 8mV |
| 참고 1: 노화, 온도 및 전압 | ||||||
적용 범위
4채널의 24.5~29Gb/s 조정 가능한 오류 미터는 다음과 같은 분야에서 널리 사용됩니다.
광통신 제조: 광통신 장치의 개발 및 생산 (TOSA, ROSA 등) 에서장비는 장치의 비트 오류율 성능을 테스트하는 데 사용할 수 있습니다..
대학 및 과학 연구 기관: 광학 및 전자 공학 분야의 과학 연구 프로젝트에서장비는 이론 모델을 검증하고 새로운 기술을 테스트하는 데 사용할 수 있습니다..
디지털 통신 시스템: 디지털 통신 시스템의 설치, 디버깅 및 유지보수 중에장비는 시스템의 안정적인 작동을 보장하기 위해 시스템의 비트 오류율 성능을 테스트하는 데 사용할 수 있습니다..
담당자: Jack Zhou
전화 번호: +86 4008 456 336
